KS-502-M PLC 測量校準系統
專為 PLC 平面光波導元件研發之高精度測量系統。除了承襲 SUS 高剛性結構的抗震與溫控優勢外，本系統特別整合了先進的光學波導測量裝置，能針對帶狀波導（Ribbon Waveguide）進行極速且穩定的對準與校準製程。支援多樣化光學設備彈性配置，為光通訊元件生產提供最優質的自動化校準解決方案。
技術規格與特色
01
SUS 高剛性物理底盤 有效抑制高頻微震動，排除溫度漲縮干擾，確保量測環境穩定。
02
光學波導測量整合 內建高解析光學感測組件，專為 PLC 波導測量深度優化。
03
帶狀波導快速校準 針對帶狀波導提供快速搜尋對準功能，大幅提升產線測量稼動率。
04
多樣化光學設備適配 使用者可依據量測元件種類，彈性調整儀器配置進行最適化校準。
05
高一致性自動化程序 透過 PLC 自動化控制，消除人工操作誤差，維持高品質量測數據。
06
製程穩定性監控 系統可長時間維持校準基準，適用於 24/7 高強度工業測量環境。